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產品型號：RT RC-05B
更新時間：2025-06-30簡要描述：分辨率測試卡是一款采用半導體光刻技術制作的微型測試卡。它用于校準和監控系統分辨率，確保微焦點或納米焦點X射線檢測系統獲得高質量的結果。
| 品牌 | 日本JIMA |
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日本JIMA RT RC-05B分辨率測試卡,JIMA分辨率測試卡詳細介紹：
JIMA RT RC-05B分辨率測試卡是一款采用半導體光刻技術制作的微型分辨率測試卡。
RC-05B 分辨率測試卡用于校準和監控系統分辨率，確保微焦點或納米焦點X射線檢測系統獲得高質量的結果。JIMA RT RC-05B支持3微米至50微米（3 µ m至50 µ m）的分辨率。這對應于6微米和100微米（6 µ m和100 µ m）之間的焦斑尺寸。
16組I&T布局，2x2 mm，8x8 mm硅基，如上圖
下圖為尺寸為5 μm I&T的圖像
Au Slit的數量為3行和2個空格
寬度3至10 μm：T形布局
寬度15至50 μm：I形布局L/S寬度
L/S寬度：3、4、5、6、7、8、9、10、15、20、25、30、35、40、45、50 μm
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